|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
Diffraction gratings metrology and ray-tracing results for an XUV Raman spectrometer at FLASH |
| Auteur: |
Dziarzhytski, Siarhei Siewert, Frank Sokolov, Andrey Gwalt, Grzegorz Seliger, Tino Rübhausen, Michael Weigelt, Holger Brenner, Günter |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 25 (2018) nr. 1 pagina's 138-144 |
| Jaar: |
2018-01-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |