|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of individual stacking faults in a wurtzite GaAs nanowire by nanobeam X-ray diffraction |
| Auteur: |
Davtyan, Arman Lehmann, Sebastian Kriegner, Dominik Zamani, Reza R. Dick, Kimberly A. Bahrami, Danial Al-Hassan, Ali Leake, Steven J. Pietsch, Ullrich Holý, Václav |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 24 (2017) nr. 5 pagina's 981-990 |
| Jaar: |
2017-09-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |