|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of nanoparticulate silicon as printed layers using scanning electron microscopy, transmission electron microscopy, X-ray absorption spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy |
| Auteur: |
Unuigbe, David M. Harting, Margit Jonah, Emmanuel O. Britton, David T. Nordlund, Dennis |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 24 (2017) nr. 5 pagina's 1017-1023 |
| Jaar: |
2017-09-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |