|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Accuracy of stress measurement by Laue microdiffraction (Laue-DIC method): the influence of image noise, calibration errors and spot number |
| Auteur: |
Zhang, F. G. Bornert, M. Petit, J. Castelnau, O. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 24 (2017) nr. 4 pagina's 802-817 |
| Jaar: |
2017-07-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 21 gevonden artikelen
| volgende >> |