|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Coherent X-ray beam metrology using 2D high-resolution Fresnel-diffraction analysis |
| Auteur: |
Ruiz-Lopez, M. Faenov, A. Pikuz, T. Ozaki, N. Mitrofanov, A. Albertazzi, B. Hartley, N. Matsuoka, T. Ochante, Y. Tange, Y. Yabuuchi, T. Habara, T. Tanaka, K. A. Inubushi, Y. Yabashi, M. Nishikino, M. Kawachi, T. Pikuz, S. Ishikawa, T. Kodama, R. Bleiner, D. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 24 (2017) nr. 1 pagina's 196-204 |
| Jaar: |
2017-01-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |