|
X-ray grating interferometer for in situ and at-wavelength wavefront metrology |
|
|
|
Titel: |
X-ray grating interferometer for in situ and at-wavelength wavefront metrology |
Auteur: |
Kayser, Yves David, Christian Flechsig, Uwe Krempasky, Juraj Schlott, Volker Abela, Rafael |
Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
Paginering: |
Jaargang 24 (2017) nr. 1 pagina's 150-162 |
Jaar: |
2017-01-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|