|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
KB scanning of X-ray beam for Laue microdiffraction on accelero-phobic samples: application to in situ mechanically loaded nanowires |
| Auteur: |
Leclere, C. Cornelius, T. W. Ren, Z. Robach, O. Micha, J.-S. Davydok, A. Ulrich, O. Richter, G. Thomas, O. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 23 (2016) nr. 6 pagina's 1395-1400 |
| Jaar: |
2016-01-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |