|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Local strain and defects in silicon wafers due to nanoindentation revealed by full-field X-ray microdiffraction imaging |
| Auteur: |
Li, Z. J. Danilewsky, A. N. Helfen, L. Mikulik, P. Haenschke, D. Wittge, J. Allen, D. McNally, P. Baumbach, T. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 22 (2015) nr. 4 pagina's 1083-1090 |
| Jaar: |
2015-07-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |