|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparative study of the X-ray reflectivity and in-depth profile of a-C, B4C and Ni coatings at 0.1–2 keV |
| Auteur: |
Kozhevnikov, I. V. Filatova, E. O. Sokolov, A. A. Konashuk, A. S. Siewert, F. Störmer, M. Gaudin, J. Keitel, B. Samoylova, L. Sinn, H. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 22 (2015) nr. 2 pagina's 348-353 |
| Jaar: |
2015-03-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |