|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
XFEL diffraction: developing processing methods to optimize data quality |
| Auteur: |
Sauter, Nicholas K. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 22 (2015) nr. 2 pagina's 239-248 |
| Jaar: |
2015-03-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 32 gevonden artikelen
| << vorige |