|
Polytypism in GaAs nanowires: determination of the interplanar spacing of wurtzite GaAs by X-ray diffraction |
|
|
|
Titel: |
Polytypism in GaAs nanowires: determination of the interplanar spacing of wurtzite GaAs by X-ray diffraction |
Auteur: |
Köhl, Martin Schroth, Philipp Minkevich, Andrey A. Hornung, Jean-Wolfgang Dimakis, Emmanouil Somaschini, Claudio Geelhaar, Lutz Aschenbrenner, Timo Lazarev, Sergey Grigoriev, Daniil Pietsch, Ullrich Baumbach, Tilo |
Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
Paginering: |
Jaargang 22 (2015) nr. 1 pagina's 67-75 |
Jaar: |
2015-01-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|