|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
In situ synchrotron X-ray diffraction analysis of deformation behaviour in Ti–Ni-based thin films |
| Auteur: |
Wang, Hong Sun, Guangai Wang, Xiaolin Chen, Bo Zu, Xiaotao Liu, Yanping Li, Liangbin Pan, Guoqiang Sheng, Liusi Liu, Yaoguang Fu, Yong Qing |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 22 (2015) nr. 1 pagina's 34-41 |
| Jaar: |
2015-01-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |