|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Full-field X-ray reflection microscopy of epitaxial thin-films |
| Auteur: |
Laanait, Nouamane Zhang, Zhan Schlepütz, Christian M. Vila-Comamala, Joan Highland, Matthew J. Fenter, Paul |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 21 (2014) nr. 6 pagina's 1252-1261 |
| Jaar: |
2014-01-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |