|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 42 gevonden artikelen
| Titel: |
On the characterization of ultra-precise X-ray optical components: advances and challenges in ex situ metrology |
| Auteur: |
Siewert, F. Buchheim, J. Zeschke, T. Störmer, M. Falkenberg, G. Sankari, R. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 21 (2014) nr. 5 pagina's 968-975 |
| Jaar: |
2014-09-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 42 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |