|
An X-ray Raman spectrometer for EXAFS studies on minerals: bent Laue spectrometer with 20 keV X-rays |
|
|
|
Titel: |
An X-ray Raman spectrometer for EXAFS studies on minerals: bent Laue spectrometer with 20 keV X-rays |
Auteur: |
Hiraoka, N. Fukui, H. Tanida, H. Toyokawa, H. Cai, Y. Q. Tsuei, K. D. |
Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
Paginering: |
Jaargang 20 (2013) nr. 2 pagina's 266-271 |
Jaar: |
2013-03-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|