|
Complete polarization analysis of an APPLE II undulator using a soft X-ray polarimeter |
|
|
|
Titel: |
Complete polarization analysis of an APPLE II undulator using a soft X-ray polarimeter |
Auteur: |
Wang, Hongchang Bencok, Peter Steadman, Paul Longhi, Emily Zhu, Jingtao Wang, Zhanshan |
Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
Paginering: |
Jaargang 19 (2012) nr. 6 pagina's 944-948 |
Jaar: |
2012-01-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|