|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
A unique approach to accurately measure thickness in thick multilayers |
| Auteur: |
Shi, Bing Hiller, Jon M. Liu, Yuzi Liu, Chian Qian, Jun Gades, Lisa Wieczorek, Michael J. Marander, Albert T. Maser, Jorg Assoufid, Lahsen |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 19 (2012) nr. 3 pagina's 425-427 |
| Jaar: |
2012-05-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |