|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Two-dimensional approach to fluorescence yield XANES measurement using a silicon drift detector |
| Auteur: |
Tamenori, Y. Morita, M. Nakamura, T. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 18 (2011) nr. 5 pagina's 747-752 |
| Jaar: |
2011-09-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |