|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Crystallinity estimation of thin silicon-on-insulator layers by means of diffractometry using a highly parallel X-ray microbeam |
| Auteur: |
Takeda, Shingo Yokoyama, Kazushi Tsusaka, Yoshiyuki Kagoshima, Yasushi Matsui, Junji Ogura, Atsushi |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 13 (2006) nr. 5 pagina's 373-377 |
| Jaar: |
2006-09-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |