|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Performance of a dispersion-compensating scanning X-ray spectrometer for Compton profile measurements |
| Auteur: |
Hiraoka, N. Buslaps, T. Honkimäki, V. Suortti, P. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 12 (2005) nr. 5 pagina's 670-674 |
| Jaar: |
2005-09-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |