|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Spherically bent analyzers for resonant inelastic X-ray scattering with intrinsic resolution below 200 meV |
| Auteur: |
Collart, Emilie Shukla, Abhay Morand, Marc Malgrange, Cécile Bardou, Nathalie Madouri, Ali Pelouard, Jean-Luc Gélébart, Frédéric |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 12 (2005) nr. 4 pagina's 473-478 |
| Jaar: |
2005-07-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |