|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Lowest limit for detection of impurity concentration in semiconductors by fluorescence XAFS: resonant Raman scattering and angle dependence |
| Auteur: |
Ofuchi, H. Kyouzu, H. Takahashi, R. Tabuchi, M. Takeda, Y. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 12 (2005) nr. 4 pagina's 494-498 |
| Jaar: |
2005-07-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |