|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Scanning X-ray microdiffraction with submicrometer white beam for strain/stress and orientation mapping in thin films |
| Auteur: |
Tamura, N. MacDowell, A. A. Spolenak, R. Valek, B. C. Bravman, J. C. Brown, W. L. Celestre, R. S. Padmore, H. A Batterman, B. W. Patel, J. R. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 10 (2003) nr. 2 pagina's 137-143 |
| Jaar: |
2003-03-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |