|
A Rietveld refinement using neutron powder diffraction data of a fully deuterated topaz, Al2SiO4(OD)2 |
|
|
|
Titel: |
A Rietveld refinement using neutron powder diffraction data of a fully deuterated topaz, Al2SiO4(OD)2 |
Auteur: |
Chen, Jianrong Lager, George A. Kunz, Martin Hansen, Thomas C. Ulmer, Peter |
Verschenen in: |
Acta crystallographica. Section E, Structure reports |
Paginering: |
Jaargang 61 (2005) nr. 11 pagina's i253-i255 |
Jaar: |
2005-01-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|