|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of Debye–Waller factor and structure factors for Si by quantitative convergent-beam electron diffraction using off-axis multi-beam orientations |
| Auteur: |
Sang, X. H. Kulovits, A. Wiezorek, J. M. K. |
| Verschenen in: |
Acta crystallographica. Section A, Foundations of crystallography |
| Paginering: | Jaargang 66 (2010) nr. 6 pagina's 685-693 |
| Jaar: |
2010-01-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |