|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
High-Precision Measurement of Temperature Factors for NiAl by Convergent-Beam Electron Diffraction |
| Auteur: |
Nüchter, W. Weickenmeier, A. L. Mayer, J. |
| Verschenen in: |
Acta crystallographica. Section A, Foundations of crystallography |
| Paginering: | Jaargang 54 (1998) nr. 2 pagina's 147-157 |
| Jaar: |
1998-03-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |