|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
MEM Analysis of Electron-Density Distributions for Silicon and Diamond using Short-Wavelength X-rays (W Kα 1) |
| Auteur: |
Yamamoto, K. Takahashi, Y. Ohshima, K. Okamura, F. P. Yukino, K. |
| Verschenen in: |
Acta crystallographica. Section A, Foundations of crystallography |
| Paginering: | Jaargang 52 (1996) nr. 4 pagina's 606-613 |
| Jaar: |
1996-07-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |