|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 28 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray determination of the dislocation densities in semiconductor crystals using a Bartels five-crystal diffractometer |
| Auteur: |
Healey, P. D. Bao, K. Gokhale, M. Ayers, J. E. Jain, F. C. |
| Verschenen in: |
Acta crystallographica. Section A, Foundations of crystallography |
| Paginering: | Jaargang 51 (1995) nr. 4 pagina's 498-503 |
| Jaar: |
1995-07-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 28 van 28 gevonden artikelen
| << vorige |