|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Si/SiO2 interface-depth determination in glancing-incidence X-ray diffraction experiments |
| Auteur: |
Aleksandrov, P. A. Belova, N. E. Fanchenko, S. S. Polandova, I. X. |
| Verschenen in: |
Acta crystallographica. Section A, Foundations of crystallography |
| Paginering: | Jaargang 49 (1993) nr. 6 pagina's 893-894 |
| Jaar: |
1993-01-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |