|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of individual structure-factor phases with tenth-degree accuracy: the 00.2 reflection in BeO studied by electron and X-ray diffraction |
| Auteur: |
Zuo, J. M. Spence, J. C. H. Downs, J. Mayer, J. |
| Verschenen in: |
Acta crystallographica. Section A, Foundations of crystallography |
| Paginering: | Jaargang 49 (1993) nr. 3 pagina's 422-429 |
| Jaar: |
1993-05-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |