|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Description and peak-position determination of a single X-ray diffraction profile for high-accuracy lattice-parameter measurements by the Bond method. II. Testing and choice of description |
| Auteur: |
Gałdecka, E. |
| Verschenen in: |
Acta crystallographica. Section A, Foundations of crystallography |
| Paginering: | Jaargang 49 (1993) nr. 1 pagina's 116-126 |
| Jaar: |
1993-01-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |