|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray diffraction study of K3NdSi7O17: a new framework silicate with a linear Si—O—Si bond |
| Auteur: |
Haile, S. M. Wuensch, B. J. |
| Verschenen in: |
Acta crystallographica. Section B, Structural science |
| Paginering: | Jaargang 56 (2000) nr. 5 pagina's 773-779 |
| Jaar: |
2000-00-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |