|
X-ray Diffraction Study of the Crystal Structure of the Tl Ternary Chalcogenides Tl2xIn2(1−x)Se2, x = 0.2, 0.3,⋯0.9 |
|
|
|
Titel: |
X-ray Diffraction Study of the Crystal Structure of the Tl Ternary Chalcogenides Tl2xIn2(1−x)Se2, x = 0.2, 0.3,⋯0.9 |
Auteur: |
Hatzisymeon, K. G. Kokkou, S. C. Anagnostopoulos, A. N. Rentzeperis, P. I. |
Verschenen in: |
Acta crystallographica. Section B, Structural science |
Paginering: |
Jaargang 54 (1998) nr. 4 pagina's 358-364 |
Jaar: |
1998-08-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|