|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Calculation of the electron density distribution in silicon by the density-functional method. Comparison with X-ray results |
| Auteur: |
Velders, G. J. M. Feil, D. |
| Verschenen in: |
Acta crystallographica. Section B, Structural science |
| Paginering: | Jaargang 45 (1989) nr. 4 pagina's 359-364 |
| Jaar: |
1989-08-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |