|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 27 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray diffraction techniques for the analysis of epitaxic thin films |
| Auteur: |
Wallace, C. A. Ward, R. C. C. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 8 (1975) nr. 5 pagina's 545-556 |
| Jaar: |
1975-00-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 27 van 27 gevonden artikelen
| << vorige |