|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Residual stress depth profiling based on a triaxial stress model: the principal stress gradients in magnetron-sputtered molybdenum films |
| Auteur: |
Schoderböck, Peter Ploner, Kevin |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 58 () nr. 1 pagina's 60-70 |
| Jaar: |
2025-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |