|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Intensity corrections for grazing-incidence X-ray diffraction of thin films using static area detectors |
| Auteur: |
Gasser, Fabian Simbrunner, Josef Huck, Marten Moser, Armin Steinrück, Hans-Georg Resel, Roland |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 58 () nr. 1 pagina's 96-106 |
| Jaar: |
2025-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |