|
Advanced EXAFS analysis techniques applied to the L-edges of the lanthanide oxides |
|
|
|
Titel: |
Advanced EXAFS analysis techniques applied to the L-edges of the lanthanide oxides |
Auteur: |
Smerigan, Adam Hoffman, Adam S. Ostervold, Lars Hong, Jiyun Perez-Aguillar, Jorge Caine, Ash C. Greenlee, Lauren Bare, Simon R. |
Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
Paginering: |
Jaargang 57 () nr. 6 pagina's 1913-1923 |
Jaar: |
2024-02-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|