|
Millisecond X-ray reflectometry and neural network analysis: unveiling fast processes in spin coating |
|
|
|
Titel: |
Millisecond X-ray reflectometry and neural network analysis: unveiling fast processes in spin coating |
Auteur: |
Schumi-Mareček, David Bertram, Florian Mikulík, Petr Varshney, Devanshu Novák, Jiří Kowarik, Stefan |
Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
Paginering: |
Jaargang 57 () nr. 2 pagina's 314-323 |
Jaar: |
2024-04-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|