|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Use of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Part 2. Offset corrections |
| Auteur: |
Nolze, Gert Tokarski, Tomasz Rychłowski, Łukasz |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 56 () nr. 2 pagina's 361-366 |
| Jaar: |
2023-04-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |