|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Faster and lower-dose X-ray reflectivity measurements enabled by physics-informed modeling and artificial intelligence co-refinement |
| Auteur: |
Mareček, David Oberreiter, Julian Nelson, Andrew Kowarik, Stefan |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 55 () nr. 5 pagina's 1305-1313 |
| Jaar: |
2022-00-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |