|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Observation of in-plane shear stress fields in off-axis SiC wafers by birefringence imaging |
| Auteur: |
Harada, Shunta Murayama, Kenta |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 55 () nr. 4 pagina's 1029-1032 |
| Jaar: |
2022-08-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |