|
Instrument-model refinement in normalized reciprocal-vector space for X-ray Laue diffraction |
|
|
|
Titel: |
Instrument-model refinement in normalized reciprocal-vector space for X-ray Laue diffraction |
Auteur: |
Kamiński, Radosław Szarejko, Dariusz Pedersen, Martin N. Hatcher, Lauren E. Łaski, Piotr Raithby, Paul R. Wulff, Michael Jarzembska, Katarzyna N. |
Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
Paginering: |
Jaargang 53 () nr. 5 pagina's 1370-1375 |
Jaar: |
2020-00-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|