|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Equatorial aberration of powder diffraction data collected with an Si strip X-ray detector by a continuous-scan integration method |
| Auteur: |
Ida, Takashi |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 53 () nr. 3 pagina's 679-685 |
| Jaar: |
2020-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |