|
Accurate high-resolution single-crystal diffraction data from a Pilatus3 X CdTe detector |
|
|
|
Titel: |
Accurate high-resolution single-crystal diffraction data from a Pilatus3 X CdTe detector |
Auteur: |
Krause, Lennard Tolborg, Kasper Grønbech, Thomas Bjørn Egede Sugimoto, Kunihisa Iversen, Bo Brummerstedt Overgaard, Jacob |
Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
Paginering: |
Jaargang 53 () nr. 3 pagina's 635-649 |
Jaar: |
2020-06-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|