|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Detailed surface analysis of V-defects in GaN films on patterned silicon(111) substrates by metal–organic chemical vapour deposition |
| Auteur: |
Gao, Jiang-Dong Zhang, Jian-Li Zhu, Xin Wu, Xiao-Ming Mo, Chun-Lan Pan, Shuan Liu, Jun-Lin Jiang, Feng-Yi |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 52 (2019) nr. 3 pagina's 637-642 |
| Jaar: |
2019-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |