|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 29 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
The influence of X-ray diffraction pattern angular range on Rietveld refinement results used for quantitative analysis, crystallite size calculation and unit-cell parameter refinement |
| Auteur: |
Uvarov, Vladimir |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 52 (2019) nr. 2 pagina's 252-261 |
| Jaar: |
2019-04-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 29 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |