|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Mapping of individual dislocations with dark-field X-ray microscopy |
| Auteur: |
Jakobsen, A. C. Simons, H. Ludwig, W. Yildirim, C. Leemreize, H. Porz, L. Detlefs, C. Poulsen, H. F. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 52 (2019) nr. 1 pagina's 122-132 |
| Jaar: |
2019-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |