|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 29 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray topo-tomography studies of linear dislocations in silicon single crystals |
| Auteur: |
Asadchikov, Victor Buzmakov, Alexey Chukhovskii, Felix Dyachkova, Irina Zolotov, Denis Danilewsky, Andreas Baumbach, Tilo Bode, Simon Haaga, Simon Hänschke, Daniel Kabukcuoglu, Merve Balzer, Matthias Caselle, Michele Suvorov, Ernest |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 51 (2018) nr. 6 pagina's 1616-1622 |
| Jaar: |
2018-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 29 van 29 gevonden artikelen
| << vorige |