|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Complete structural and strain analysis of single GaAs/(In,Ga)As/GaAs core–shell–shell nanowires by means of in-plane and out-of-plane X-ray nanodiffraction |
| Auteur: |
Al Hassan, Ali Davtyan, Arman Küpers, Hanno Lewis, Ryan B. Bahrami, Danial Bertram, Florian Bussone, Genziana Richter, Carsten Geelhaar, Lutz Pietsch, Ullrich |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 51 (2018) nr. 5 pagina's 1387-1395 |
| Jaar: |
2018-00-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |